플래시 IC의 홀수 표시-공장에서 거부됩니까?

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최근에 정말 저렴한 SSD (25.99 달러)를 구입했으며 호기심으로이 사건을 터뜨 렸습니다.

플래시 칩에는 부품 번호에 에칭 바가 생겼습니다.

여기에 이미지 설명을 입력하십시오

이것이 칩을 리 젝트로 표시하는 표준 방법입니까?

편집 : 나는 너무 신뢰하지 않기 때문에 RAID-1에 넣을 두 가지를 구입했으며 다른 하나는 동일한 표시를 가지고 있습니다.

여기에 이미지 설명을 입력하십시오

마킹은 동일하지만 Micron 플래시를 사용합니다.

이 시점 에서 플래시 부품 번호를 숨기는 것이 실제로, 실제로, 실제로는 비효율적 인 시도 여야한다고 생각할 수 있습니까?

미크론 부분은 MT29F128G08CBECBH6-12:C16GByte 부분이므로 64GB의 원시 스토리지가 있습니다.

다른 부분은 "Spectek" 이라는 브랜드로, 이전에는 들어 본 적이없는 마이크론 자회사입니다. 그것들 FBNL95B71KDBABH6-10AL은 16GB 바이트 인 것처럼 보입니다 .

편집하다:

첫 번째 드라이브는 sudo badblocks -b 4096 -c 4096 -s -w /dev/sdm오류없이 통과 했으므로 용량은 실제로 존재하며 적어도 하나의 쓰기에 적합합니다.

편집 수정 :

수정 : 어느 쪽이 badblocks내 값싼 USB-SATA 어댑터를 충돌한다, 또는 그들이 할 몇 가지 문제가 있습니다.

편집 편집 편집 :

좋아, badblocks드라이브 에서 실행 하면 디스크가 끔찍한 것처럼 보입니다. SMART 보고서는 다음과 같습니다.

durr@mainnas:/media/Storage/badblocks⟫ sudo smartctl /dev/sdm -a
smartctl 6.2 2013-07-26 r3841 [x86_64-linux-3.13.0-79-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-13, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Device Model:     KingDian S200 60GB
Serial Number:    2016022700031
LU WWN Device Id: 0 000000 000000000
Firmware Version: 20150818
User Capacity:    60,022,480,896 bytes [60.0 GB]
Sector Size:      512 bytes logical/physical
Rotation Rate:    Solid State Device
Device is:        Not in smartctl database [for details use: -P showall]
ATA Version is:   ACS-2 (minor revision not indicated)
SATA Version is:  SATA 3.1, 6.0 Gb/s (current: 1.5 Gb/s)
Local Time is:    Sun Mar 20 19:15:31 2016 PDT
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x02) Offline data collection activity
                                        was completed without error.
                                        Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status:      (   0) The previous self-test routine completed
                                        without error or no self-test has ever
                                        been run.
Total time to complete Offline
data collection:                (    0) seconds.
Offline data collection
capabilities:                    (0x11) SMART execute Offline immediate.
                                        No Auto Offline data collection support.
                                        Suspend Offline collection upon new
                                        command.
                                        No Offline surface scan supported.
                                        Self-test supported.
                                        No Conveyance Self-test supported.
                                        No Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0002) Does not save SMART data before
                                        entering power-saving mode.
                                        Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
                                        General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time:        (   2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:        (  10) minutes.

SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  1 Raw_Read_Error_Rate     0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       0
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0002   100   100   050    Old_age   Always       -       0
  9 Power_On_Hours          0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       2
 12 Power_Cycle_Count       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       6
160 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       0
161 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       125
162 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       1
163 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       20
164 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       4943
165 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       12
166 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       1
167 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       4
192 Power-Off_Retract_Count 0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       6
194 Temperature_Celsius     0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       40
195 Hardware_ECC_Recovered  0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       0
196 Reallocated_Event_Count 0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       0
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       6
241 Total_LBAs_Written      0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       2857
242 Total_LBAs_Read         0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       72
245 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       9517

Warning! SMART ATA Error Log Structure error: invalid SMART checksum.
SMART Error Log Version: 1
Warning: ATA error count 0 inconsistent with error log pointer 1

ATA Error Count: 0
        CR = Command Register [HEX]
        FR = Features Register [HEX]
        SC = Sector Count Register [HEX]
        SN = Sector Number Register [HEX]
        CL = Cylinder Low Register [HEX]
        CH = Cylinder High Register [HEX]
        DH = Device/Head Register [HEX]
        DC = Device Command Register [HEX]
        ER = Error register [HEX]
        ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.

Error 0 occurred at disk power-on lifetime: 21930 hours (913 days + 18 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was in an unknown state.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  00 03 ff 93 01 00 ce

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  03 00 00 00 00 00 b9 00      00:00:00.288  CFA REQUEST EXTENDED ERROR
  00 00 00 00 00 00 01 00      00:00:00.000  NOP [Abort queued commands]
  00 00 b3 01 18 00 08 00      00:00:00.000  NOP [Abort queued commands]
  00 02 01 00 00 00 00 4c      16:05:33.861  NOP [Reserved subcommand] [OBS-ACS-2]
  03 00 07 00 00 00 ce 00      00:18:34.183  CFA REQUEST EXTENDED ERROR

Error -4 occurred at disk power-on lifetime: 0 hours (0 days + 0 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  04 51 f0 d0 3e 44 a0  Error: ABRT

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  b0 d0 01 00 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART READ DATA
  b0 d5 01 01 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART READ LOG
  b0 d5 01 00 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART READ LOG
  b0 da 00 00 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART RETURN STATUS
  b0 d1 01 01 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART READ ATTRIBUTE THRESHOLDS [OBS-4]

Warning! SMART Self-Test Log Structure error: invalid SMART checksum.
SMART Self-test log structure revision number 1
Num  Test_Description    Status                  Remaining  LifeTime(hours)  LBA_of_first_error
# 1  Extended offline    Completed without error       00%         0         -

Selective Self-tests/Logging not supported

이 시점에서 나는 약 일주일 동안 운전했다. 918 일 전에 어떻게 오류가 발생했는지 잘 모르겠습니다.

또한 : Error -4. 예, SMART 로그에 음수가 있다고 생각하지 않습니다. 혹시?

이 시점에서 불량 블록으로 드라이브를 다시 테스트하면 장치가 실제로 끊어진 다음 다시 연결됩니다.

durr@mainnas:/media/Storage/badblocks⟫ dmesg | tail -n 50
[2048975.197941] sd 12:0:0:0: [sdm] Mode Sense: 28 00 00 00
[2048975.198218] sd 12:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2048975.198728] sd 12:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2048975.200188] sd 12:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2048975.200633] sd 12:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2048975.214949]  sdm: unknown partition table
[2048975.215831] sd 12:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2048975.216456] sd 12:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2048975.216915] sd 12:0:0:0: [sdm] Attached SCSI disk
[2049068.016741] usb 3-5: reset high-speed USB device number 16 using xhci_hcd
[2049068.036966] usb 3-5: device firmware changed
[2049068.037001] usb 3-5: USB disconnect, device number 16
[2049068.040592] scsi 12:0:0:0: rejecting I/O to offline device
[2049068.041057] scsi 12:0:0:0: [sdm] killing request
[2049068.041063] scsi 12:0:0:0: [sdm]
[2049068.041064] Result: hostbyte=DID_NO_CONNECT driverbyte=DRIVER_OK
[2049068.041065] scsi 12:0:0:0: [sdm] CDB:
[2049068.041066] Read(10): 28 00 00 44 3e d0 00 00 f0 00
[2049068.041070] end_request: I/O error, dev sdm, sector 4472528
[2049068.041520] scsi 12:0:0:0: rejecting I/O to offline device
[2049068.041974] scsi 12:0:0:0: [sdm] killing request
[2049068.042017] scsi 12:0:0:0: [sdm]
[2049068.042018] Result: hostbyte=DID_NO_CONNECT driverbyte=DRIVER_OK
[2049068.042018] scsi 12:0:0:0: [sdm] CDB:
[2049068.042019] Read(10): 28 00 00 44 3f c0 00 00 f0 00
[2049068.042022] end_request: I/O error, dev sdm, sector 4472768
[2049068.056652] xhci_hcd 0000:00:14.0: xHCI xhci_drop_endpoint called with disabled ep ffff8801781c3c80
[2049068.056654] xhci_hcd 0000:00:14.0: xHCI xhci_drop_endpoint called with disabled ep ffff8801781c3cc0
[2049068.168511] usb 3-5: new high-speed USB device number 17 using xhci_hcd
[2049068.259417] usb 3-5: New USB device found, idVendor=152d, idProduct=2329
[2049068.259420] usb 3-5: New USB device strings: Mfr=1, Product=2, SerialNumber=5
[2049068.259421] usb 3-5: Product: USB to ATA/ATAPI bridge
[2049068.259422] usb 3-5: Manufacturer: JMicron
[2049068.259423] usb 3-5: SerialNumber: 201602270003
[2049068.291104] usb-storage 3-5:1.0: USB Mass Storage device detected
[2049068.291152] usb-storage 3-5:1.0: Quirks match for vid 152d pid 2329: 8020
[2049068.291179] scsi13 : usb-storage 3-5:1.0
[2049069.322875] scsi 13:0:0:0: Direct-Access     KingDian  S200 60GB       2015 PQ: 0 ANSI: 2 CCS
[2049069.323058] sd 13:0:0:0: Attached scsi generic sg12 type 0
[2049069.384321] sd 13:0:0:0: [sdm] 117231408 512-byte logical blocks: (60.0 GB/55.8 GiB)
[2049069.384601] sd 13:0:0:0: [sdm] Write Protect is off
[2049069.384603] sd 13:0:0:0: [sdm] Mode Sense: 28 00 00 00
[2049069.384868] sd 13:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2049069.385353] sd 13:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2049069.386764] sd 13:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2049069.387311] sd 13:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2049069.396568]  sdm: unknown partition table
[2049069.397466] sd 13:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2049069.398067] sd 13:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2049069.398513] sd 13:0:0:0: [sdm] Attached SCSI disk

아마존으로 돌아갑니다. 나는 상대방이 돌아 오기 전에 실패하도록 설득 할 수 있는지 알 수있을 것이라고 생각합니다.

편집 편집 편집 편집 :

그렇습니다. 두 번째 드라이브는 동일한 방식으로 테스트했을 때 자체적으로 무너졌습니다. 혹시?

integrated-circuit 
— 코너 울프
소스
3
정말 흥미 롭습니다. 파손 된 다이를 포장하는데 돈을 낭비하지 않고 다이 프리 패키지를 테스트 할 수 없습니까? 그들이 그 설정을 가지고 있지 않다면, 아마도 패키징 + 테스트 후 부적합을 표시 한 다음 "회색"시장으로 탈출하여 표시됩니다. 답이 무엇인지 궁금합니다.
— Krunal Desai 2016
실크 스크리닝 과정에서 문제가 발생했을 가능성이 있습니다.이 경우 다이가 완벽하게 괜찮아도 거부 될 수 있습니다. 호기심으로 SSD, 불량 섹터를 테스트 했습니까?
— Tom Carpenter
1
@TomCarpenter 실크 스크린 표시보다 레이저 표시처럼 보입니다. 실제로 2G 이상 또는 컨트롤러 칩이 삐걱 거리는 것을 저장하고 불러 오려고 할 때까지 사용 가능한 대용량을보고하는 가짜 중국어 USB 드라이브를 상기시킵니다.
— Spehro Pefhany
4
어쩌면 그들은 스스로 판매하는 칩을 수확하지 못하게하기 위해 그렇게합니다.
— tokamak
1
두 가지 유형의 플래시가 모두 동일한 제조업체 (또는 그 자회사) 인 경우 동일한 팹 플랜트에서 생산되고 동일한 장소에 포장 된 것입니다. 따라서 IC가 다른 경우에도 여전히 동일한 표시로 거부 할 수 있습니다. 실제로 동일한 제품에 완전히 다른 두 개의 플래시 IC가 존재한다는 것은 거부 행위의 사용을 배제하지 않는 "우리가 할 수있는 것은 무엇이든 사용할 것"이라는 태도를 암시하는 것 같습니다.
— Tom Carpenter

답변:

19

SpecTek의 NAND 플래시 제품 관리자 인 Ted Netz에게 이메일을 보냈습니다. 그가 말한 내용은 다음과 같습니다 (몇 가지 사소한 문법 및 서식 수정).

안녕 아담

우리는 이런 식으로 제품을 표시합니다. 우리가 판매하는 부품의 유형으로 기계적 결함이있을 수 있지만 종종 전기적으로 양호하게 테스트됩니다. 우리는 위험 제품으로 할인 된 가격으로 판매하고 RMA를위한 좋은 기기로 반품 할 수 없도록 3 바로 훼손합니다. 기계적 결함은 일반적으로 자동화 된 스캔 단계를 통과하지 못합니다. 일반적으로 공 평면성에 실패하거나 공이 없거나 부러 질 수 있습니다. 사람들은 그 부분을 기꺼이 재 작업하고 그것을 다시 시험해야합니다. 그러나 일반적으로 모든 성능 표준을 충족하지 못할 수 있으므로 이러한 장치를 USB 앱 또는 하위 계층 앱으로 제한하는 것이 좋습니다. 또한 고객 재 작업 프로세스를 제어 할 수 없으므로 이러한 장치에 대한 보증은 다시하지 않습니다.

그러나 이것들에는 또 다른 이상한 것이 있습니다. 추가 문자 H16 62는 당사의 마킹 체계의 일부가 아닙니다. 우리는이 방식으로 Micron 마크 및 / 또는 SpecTek 마크를 위조하여 부품을 SpecTek 오리지널로 전달했습니다. 나에게도 이상한 점은 핀 1 마크에 인접한 스크라이브입니다. SpecTek으로 표시된 드라이브에서 글꼴은 일반적인 Micron 스크라이브 글꼴처럼 보이지 않는 3 개의 마크에서 다릅니다. 어쨌든 이것이 도움이되기를 바랍니다.

Thx-테드

따라서 3 개의 바는 기계적 결함이있는 고위험 무보증 할인 플래시를위한 합법적 인 표시입니다. 고객은 스스로 칩을 재 작업하고 테스트해야합니다. 그러나 추가 표시에 따라 드라이브의 칩이 위조 된 것처럼 보입니다. 품질이 낮은 제품을 위조하는 것이 더 쉬울 수 있습니다.

— 아담 헌
소스
3
정말 흥미 롭습니다. 문의 해 주셔서 감사합니다.
— 코너 울프
1
부품을 재 작업하고 테스트 한 타사에서 추가 마크를 추가했을 수 있습니다. 마찬가지로 QA 코드입니다. 그들은 다른 메커니즘을 통해 적용된 것처럼 보입니다.
— John Meacham
@JohnMeacham 두 드라이브의 고장에 기초하여, 나는 모든 테스트를 수행 한 것에 회의적입니다. 그러나 제 3자가 추가 문자를 추가 한 것에 동의합니다.
— Adam Haun
@AdamHaun-그것들이 같은 방식으로 실패한 것으로 보았을 때, 버그가있는 펌웨어가 나쁜 플래시 일 가능성이 더 높다고 생각하지만 그건 단지 추측 일뿐입니다.
— 코너 울프
@ConnorWolf 아마도. 그러나 펌웨어는 복사하기 쉽고 컨트롤러에는 Silicon Motion 부품 번호가 있습니다. 그들은 합법적 인 회사 인 것 같습니다. 그들의 펌웨어가 그 버그 라면 놀랄 것 입니다. 반면에 타사 불법 복제품 펌웨어 ...
— Adam Haun
-1

아마도 칩은 양호하지만 칩에 표시를 인쇄하는 결함이 기계에있었습니다. 그러나 그들은 여전히 ​​팔리고 사용되었습니다.

일부 장치에서 IC를 식별 할 수 없게하기 위해 마킹을 제거한 칩을 보았는데, 이는 저렴한 립 오프 제조업체의 회로 복사를 방지하려는 시도 일 수 있습니다. (그리고 DIY 애호가들은 나 자신을 좋아합니다.)

— 프랭크 B
소스
2
우리는 의견의 첫 번째 요점을 논의했지만 그럴 것 같지 않습니다. 첫 번째는 OP 및 기타에서 지적한대로 레이저 마킹이며 두 번째 라인은 원래 마킹과 정렬되지 않으므로 사후 제조가 완료되었음을 나타냅니다. 두 번째 요점도 의견에 언급되었지만 그 경우 누구든지 매우 나쁜 일을했습니다.
— Tom Carpenter
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