커패시터 데이터 시트의 누설 전류에 대한 "CV"장치는 무엇입니까?


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나는 전해 커패시터에 대한 몇 가지 누설 전류 사양을 살펴 보았고 모두 값을 다음과 같이 지정하는 것처럼 보입니다.

2 분 후 I <0.01 CV 또는 3 (μA) 중 더 큰 값

다음은 몇 가지 예제 데이터 시트입니다. Panasonic , Multicomp , Nichicon , Rubycon .

누설 전류가 커패시턴스와 전압의 곱, 즉 5V 전원 공급 장치의 100µF 캡의 경우 I=0.01×100µF×5V=5×106A=5µA .

아니면 CV 단위가 완전히 다른가요?

또한 커패시터가 일반적으로 몇 초 이내에 충전 될 때이 정격에 오랜 시간 지연이 발생하는 이유는 무엇입니까?


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C x V의 실제 단위는 "충전"이므로이를 전류로 변환하는 암시 적 "초당"이 있습니다.
Dave Tweed

답변:


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이 경우 누설 사양 0.01CV (또는 3 A)는 인가 전압이 아니라 정격 전압과 정격 정전 용량 의 곱입니다 . 물론 3 A는 "둘 중 높은 쪽"(일명 "나쁜")을 의미합니다. 따라서 캡의 정격이 10V / 100 F 인 경우 누출은 10 A 미만입니다 .μμμμ


SP의 데이터 시트 해석 규칙 # 1은 다음과 같습니다.

스펙이 두 가지 방식으로 해석 될 수 있고 하나가 다른 것보다 나쁘면 더 나쁜 것이 올바른 방법입니다.


전해 캡의 실제 누출은 정격 값보다 훨씬 작거나 약간 작을 수 있습니다. 기회는 정격 전압보다 훨씬 낮은에서 작동 될 때 낮은 누설이있을 것이다 커패시터를 평가 높은 전압하지만, 그것은 보장되지 않으며 필요합니다 마지막 커패시터 연속 정격 전압 이하에서 동작합니다.

물론 초기 누설이 사양보다 약간 높을 수 있고 보증 된 값으로 떨어지기까지 시간이 걸릴 수 있기 때문에 (상대적으로) 긴 시간은 물론입니다. 전해 캡의 유전체는 에칭 된 알루미늄 판상에서 매우 매우 얇은 산화물 층이기 때문에 전압이 가해질 때 양극 처리되는 핀홀 등을 발생시킬 수 있기 때문이다.

United Chemicon 이 누출에 대해 말한 내용은 다음과 같습니다 .

누설 전류 (DCL)

커패시터의 유전체는 DC 전류의 흐름을 방지하는 매우 높은 저항을 가지고 있습니다. 그러나 유전체에는 누설 전류 라 불리는 소량의 전류를 통과시킬 수있는 영역이 있습니다. 전류 흐름을 허용하는 영역은 균질하지 않은 매우 작은 포일 불순물 부위에 기인하며, 이들 불순물 위에 형성된 유전체는 강한 결합을 생성하지 않습니다. 커패시터가 높은 DC 전압 또는 고온에 노출되면 이러한 본드가 끊어지고 누설 전류가 증가합니다. 누설 전류도 다음 요인에 의해 결정됩니다.

  1. 커패시턴스 값
  2. 인가 전압 대 정격 전압
  3. 이전 역사

누설 전류는 커패시턴스에 비례하며인가 된 전압이 감소함에 따라 감소합니다. 커패시터가 장시간 전압을인가하지 않고 온도가 상승한 경우 산화물 유전체가 약간 열화되어 누설 전류가 높아질 수 있습니다. 일반적으로이 손상은 전압을 다시 적용하면 복구됩니다.

이 유형의 강력한 '형성'효과는 현대 부품에서는 흔하지 않으며 부품을 사용하기 전에 일정 시간 동안 앉아 있던 옛날에는 더 자주 발생하는 것처럼 보였습니다. 아마도 현대의 전해질은 더 잘 제어되거나 더 순수하거나 방부제를 가지고있을 것입니다.

편집 : 참고 @Dave의 의견 에 따르면 0.01 매개 변수 의 단위 는 1 / s 여야합니다.


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훌륭한 답변, 감사합니다. 이것은 계수를 제공하는 대신 각 특정 모델에 대해 누설 전류를 마이크로 암페어로 명시 적으로 제공하는 데이터 시트에서 본 것과 집계 된 것 같습니다.
다항식

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누설 전류는 플레이트 면적 (정전 용량에 비례) 또는 플레이트 분리 (정전 용량에 비례) 및인가 전압에 반비례하므로 누설 전류는 CV에 비례합니다.

전해 커패시터는 플레이트에서의 기계적 운동 및 전해질에서의 분극 효과와 관련된 흥미로운 '장시간 상수'를 갖는다. 큰 전해 커패시터를 충전하고 몇 분 동안 그대로 두었다가 빠르게 방전 한 다음 고 임피던스 DVM으로 몇 분 동안 전압을 관찰하면 가장 효과적으로 시연됩니다. 전압은 0에서 상승하며 원래 충전 전압의 놀랍도록 큰 부분에 도달 할 수 있습니다. 이 전압 회복 실험은 전해 커패시터의 비 이상성을 입증하기 위해서만 할 가치가 있습니다.

이것이 의미하는 바는 큰 전해액에서 낮은 누설 전류를 측정하려는 경우 전압 변화에 따른 전압 복구의 영향으로 인해 늪이 될 것입니다. 따라서 지정된 2 분 지연으로 인해 제조업체에서 측정 오류의 중요한 원인으로 전압 복구를 제거하기에 충분하다고 판단했습니다.

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