“좋은”아이 다이어그램과“나쁜”아이 다이어그램을 구분하는 것은 무엇입니까?

직장에서 일부 USB 검증 테스트를 실행 중이며, 함께 작업중인 Agilent 오실로스코프는 합격 / 불합격 통계 요약과 함께 예쁜 아이 다이어그램을 반환합니다. 합격 / 불합격이 범위 내에 표시되므로이 다이어그램에 대해 많은 분석을 수행 할 필요가 없습니다.

나는 지난 며칠 동안 이것들 중 상당수를 살펴 보았고 호기심이 생겼습니다. 일반적으로 "좋은"눈 다이어그램과 "나쁜"눈 다이어그램을 구분하는 것은 무엇입니까? 내가 실행 한 많은 테스트에서 장치가 실패했지만 아이 다이어그램이 통과 한 것과 매우 유사했습니다.

나는 눈을 통해 뻔뻔한 교차점이있는 다이어그램을 이해할 수 있지만이 다이어그램을 볼 때 고려해야 할 다른 요소는 무엇입니까?

당신이 보여주는 눈은 "좋은"눈의 범주에 단단히 있습니다. 100,000 년마다 한 번 이상 오류를 발생시키는 것은 없습니다.

찾아야 할 사항 :

• 눈을 측정하면서 실제 데이터를 보내고 있습니까? 유휴 패턴 또는 이와 유사한 동작으로 인해 실제 데이터보다 눈이 훨씬 깨끗해 보일 수 있습니다.

• 눈에 간헐적으로 탈지가 발생할 수있는 외부 간섭이 있습니까 (이 경우에는 포착되지 않음)?

비교를 위해 다음은 Google 이미지 검색에서 가져온 "나쁜"눈입니다.

이는 실질적인 임의 노이즈의 경우입니다.

아래 눈은 강한 듀티 사이클 왜곡을 보여줍니다.

이 눈은 실질적인 기호 간 간섭 (ISI)을 보여줍니다. 이 눈은 여전히 ^10-9 또는 더 나은 비트 오류율을 달성 할 것입니다 (그러나 잡음이없는 시뮬레이션에서 나온 것 같습니다).

오른쪽의 눈은 감쇠 (일반적으로 피부 효과 손실에서 비롯) 의 특성을 가진 ISI를 보여줍니다 .$\sqrt{f}$

적목 현상은 전송선에서 반사 효과를 나타냅니다.

이러한 눈은 클럭 데이터 ​​복구 회로가 기능을 넘어서 작동하도록함으로써 발생할 수있는 강력한 지터 효과를 나타냅니다.