일반적인 디지털 멀티 미터가 인덕턴스를 측정하지 않는 이유는 무엇입니까?


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주로 디지털 회로를 사용하더라도 일반적으로 모든 벅 또는 부스트 컨버터 때문에 최근에 사용했던 것보다 훨씬 자주 인덕터를 사용하고 있습니다. LCD).

인덕턴스 범위의 표준 디지털 멀티 미터 (DMM)를 본 적이 없습니다. 그래서 LC 측정을하는 별도의 미터를 구입하게되었습니다.

그러나 많은 DMM에는 정전 용량 스케일이 있습니다. 커패시터와 인덕터는 전압과 전류가 반전 된 서로의 미러 이미지로 생각할 수 있기 때문에 왜 DMM에 인덕턴스 스케일도 포함되지 않습니까? 인덕턴스 측정이 DMM에서 제외되고 특수 미터로 강등되는 것이 어려운 이유는 무엇입니까?

인덕턴스 미터는 일반적으로 LC 미터 (LCR 포함)이므로 DMM과 다른 방식으로 정전 용량을 측정합니까? 그것들은 DMM의 커패시턴스 스케일보다 더 정확합니까?

답변:


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DMM이 인덕턴스를 측정 할 수없는 유일한 이유는 저항 또는 커패시턴스보다 인덕턴스를 측정하기가 어렵다는 것입니다.이 작업에는 저렴한 회로가 아닌 특수 회로가 필요합니다. 인덕턴스 측정이 필요한 경우는 상대적으로 적기 때문에 표준 DMM에는이 기능이 없으므로 비용이 저렴합니다.

간단한 DMM은 커패시터를 일정한 전류로 충전하고 전압 축적 속도를 측정하여 커패시턴스를 측정 할 수 있습니다. 이 간단한 기술은 놀랍도록 우수한 정확도와 넓은 다이나믹 레인지를 제공하므로 상당한 비용 부담없이 거의 모든 DMM에서 구현할 수 있습니다. 다른 기술들도 있습니다.

이론적으로 인덕터 전체에 일정한 전압을 적용하고 전류 축적을 측정하여 인덕턴스를 측정 할 수 있습니다. 그러나 실제로이 기술은 구현하기가 훨씬 복잡하며 다음과 같은 이유로 커패시터의 정확도는 좋지 않습니다.

  • 인덕터는 기생 저항과 커패시턴스가 비교적 높을 수 있음
  • 코어 손실 (코어 인덕터에서)
  • EMI (스트레이 인덕턴스 및 커패시턴스 포함)
  • 인덕터의 주파수 의존 효과

인덕턴스를 측정하는 기술은 거의 없습니다 (일부 기술은 여기 참조 ).

LCR은 인덕턴스 측정을 위해 설계되었으며 필요한 회로를 포함하는 특수 측정기입니다. 비용이 많이 드는 도구입니다.

인덕턴스를 측정하기위한 하드웨어가 R 및 C의 정확한 측정을 위해 사용될 수도 있기 때문에, LCR은 또한 커패시턴스 및 저항 측정의 정확도 (예 : AC 저항, AC 커패시턴스, ESR 등)를 향상시키기 위해이 회로를 사용합니다. LCR로 인덕턴스와 커패시턴스를 측정하는 것의 차이점은 단지 다른 펌웨어 알고리즘의 문제 일 뿐이라고 생각합니다.

따라서 귀하의 질문에 대한 일반적인 답변은 "그렇습니다. LCR은 일반적으로 DMM보다 RC 측정에서 더 정확하며 더 넓은 범위의 측정 가능 수량"입니다. 그러나 이것은 단지 경험의 법칙 일뿐입니다. 많은 훌륭한 DMM과 거친 LCR이 있습니다. 사양을 읽으십시오.


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LCR 미터는 일반적으로 특정 테스트 주파수에서 전압과 전류 사이의 진폭 비율과 위상 변이를 측정하여 장치의 '복잡한 임피던스'를 측정합니다. 그런 다음이 임피던스를 얻기 위해 R과 C 또는 R과 L의 조합을 알아 내기 위해 거꾸로 작업 할 수 있습니다. 하나의 LCR 미터를 사용하여 저항, 커패시터 및 인덕터의 일부 조합으로 디스플레이에 약간의 대표적인 회로를 조명 한 다음 주된 효과와 기생충이 무엇인지 (예 : 기생 직렬 또는 병렬 R의 경우 C 또는 L) 표시했습니다.
alex.forencich

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진폭과 위상 편이를 측정하는 방법 중 하나이지만 @ alex.forencich는 정확합니다. 또한, 당신이 말했듯이,보고 된 값은 LCR의 펌웨어가 사용하는 "등가 회로 모델"에 의존합니다. 이것이 바로 "FW 알고리즘"의 의미입니다. 설명해 주셔서 감사합니다.
Vasiliy

4

저항기는 일반적인 일반 저항기의 누설 인덕턴스 및 커패시턴스가 매우 적다는 점에서 인덕터에 비해 매우 순수합니다. 99.9 %의 저항이 판독 값을 지배합니다.

커패시터는 일반적으로 표면 실장 장치에 도달 할 때 상당히 순수합니다. 자체 인덕턴스는 매우 낮고 누설 방지 저항과 ESR이 있습니다. 다시 말하지만 방대한 양의 값에 걸친 용량 성 리액턴스는 측정을 지배하고 간단한 테스트 방법으로 적절한 결과를 제공합니다.

인덕터는 다른 이야기입니다. dc 저항 측정을 수행하지 않으면 ESR을 저주파수에서 무효 값과 분리하는 것이 어려울 수 있습니다. 피부와 근접 효과로 인해 주파수가 높아지면 ESR도 커집니다. 또한 상처 구성 요소의 누설 커패시턴스가 상대적으로 높고,이 커패시턴스가 자기 공명 주파수에 접근하여 상승 할 때 판독 값을 떨어 뜨릴 수있는 문제가 추가되어 비교적 간단한 테스트로 인덕터의 가치를 정확히 파악하기가 어렵습니다. .


아마도 더 중요한 것은, 커패시터의 동작은 일반적으로 DC에 접근하는 경우에도 더 낮은 주파수에서의 커패시턴스에 의해 지배된다. 일부 인덕터의 인덕턴스는 일부 주파수에서 기생 효과를 지배 할 수 있지만 모든 인덕터에 대해 동일한 주파수는 아닙니다.
supercat

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인덕터는 저항기 나 커패시터보다 복잡한 부품 일 수 있습니다. 그러나 일반적인 DMM에 L 측정이없는 이유는 아마도 시장의 힘 때문일 것입니다. 실제로 한 번 L 측정으로 저렴한 DMM을 사용했지만 현재 DMM 모음에서 L을 측정 할 수 없습니다.

간단한 인덕터 또는 Vasili의 링크와 같이 복잡한 장치가있는 다중 권선 변압기와 같은 자기 구성 요소의 모든 측면을 측정하거나 60 유로 와 같은 인덕턴스 측정을 위해 간단한 LCR을 구입할 수 있습니다. 온라인 사용 설명서에 따르면 조사 대상 인덕터에 250Hz의 사인을 저항과 직렬로 적용합니다. 스케일 노브로 직렬 저항을 선택할 수 있습니다. 자세한 설명은 여기를 참조하십시오.

OP의 두 번째 질문은 인덕턴스 미터가 "LC"미터라고 믿지 않습니다. 그것은 공명 회로를 사용하여 이러한 측정을 제안합니다. L 또는 C를 측정하는 가장 간단한 방법은 직렬 저항과 저주파 발진기입니다. 저렴한 DMM과 저렴한 LCR은이 방법을 사용합니다. 따라서 DMM 또는 LCR의 정확도는 비슷합니다. 그러나 인덕터는 커패시터보다 저항, 누설 플럭스, 포화, 비선형 성, 히스테리시스, 와전류, 주파수에 따른 mu와 같은 커패시터에 비해 기생 효과가 더 높기 때문에 유도성에 대한 간단한 측정으로는 충분하지 않을 수 있습니다.

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