새 HDD가 존재하지 않아야 할 오류를 한 번에보고 할 때 무엇을 의미합니까?


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방금 컴퓨터에 여러 개의 새로운 HDD를 설치했는데 그 중 하나에 두 개의 오류가보고 된 것을 발견 smartctl -x했습니다.

smartctl 6.5 2016-01-24 r4214 [x86_64-linux-4.4.0-141-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family:     Hitachi/HGST Ultrastar 7K4000
Device Model:     HGST HUS724040ALA640
Serial Number:    [REDACTED]
LU WWN Device Id: [REDACTED]
Firmware Version: MFAOAC50
User Capacity:    4,000,787,030,016 bytes [4.00 TB]
Sector Size:      512 bytes logical/physical
Rotation Rate:    7200 rpm
Form Factor:      3.5 inches
Device is:        In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is:   ATA8-ACS T13/1699-D revision 4
SATA Version is:  SATA 3.0, 6.0 Gb/s (current: 6.0 Gb/s)
Local Time is:    Tue Jan  1 05:33:21 2019 PST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
AAM feature is:   Unavailable
APM feature is:   Disabled
Rd look-ahead is: Enabled
Write cache is:   Enabled
ATA Security is:  Disabled, NOT FROZEN [SEC1]
Wt Cache Reorder: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x82) Offline data collection activity
                    was completed without error.
                    Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status:      (   0) The previous self-test routine completed
                    without error or no self-test has ever 
                    been run.
Total time to complete Offline 
data collection:        (   24) seconds.
Offline data collection
capabilities:            (0x5b) SMART execute Offline immediate.
                    Auto Offline data collection on/off support.
                    Suspend Offline collection upon new
                    command.
                    Offline surface scan supported.
                    Self-test supported.
                    No Conveyance Self-test supported.
                    Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0003) Saves SMART data before entering
                    power-saving mode.
                    Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
                    General Purpose Logging supported.
Short self-test routine 
recommended polling time:    (   1) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:    ( 543) minutes.
SCT capabilities:          (0x003d) SCT Status supported.
                    SCT Error Recovery Control supported.
                    SCT Feature Control supported.
                    SCT Data Table supported.

SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAGS    VALUE WORST THRESH FAIL RAW_VALUE
  1 Raw_Read_Error_Rate     PO-R--   100   100   016    -    0
  2 Throughput_Performance  P-S---   138   138   054    -    74
  3 Spin_Up_Time            POS---   100   100   024    -    572
  4 Start_Stop_Count        -O--C-   100   100   000    -    8
  5 Reallocated_Sector_Ct   PO--CK   100   100   005    -    0
  7 Seek_Error_Rate         PO-R--   100   100   067    -    0
  8 Seek_Time_Performance   P-S---   142   142   020    -    25
  9 Power_On_Hours          -O--C-   100   100   000    -    520
 10 Spin_Retry_Count        PO--C-   100   100   060    -    0
 12 Power_Cycle_Count       -O--CK   100   100   000    -    8
192 Power-Off_Retract_Count -O--CK   100   100   000    -    16
193 Load_Cycle_Count        -O--C-   100   100   000    -    16
194 Temperature_Celsius     -O----   166   166   000    -    36 (Min/Max 22/56)
196 Reallocated_Event_Count -O--CK   100   100   000    -    0
197 Current_Pending_Sector  -O---K   100   100   000    -    0
198 Offline_Uncorrectable   ---R--   100   100   000    -    0
199 UDMA_CRC_Error_Count    -O-R--   200   200   000    -    0
                            ||||||_ K auto-keep
                            |||||__ C event count
                            ||||___ R error rate
                            |||____ S speed/performance
                            ||_____ O updated online
                            |______ P prefailure warning

General Purpose Log Directory Version 1
SMART           Log Directory Version 1 [multi-sector log support]
Address    Access  R/W   Size  Description
0x00       GPL,SL  R/O      1  Log Directory
0x01           SL  R/O      1  Summary SMART error log
0x03       GPL     R/O      1  Ext. Comprehensive SMART error log
0x04       GPL     R/O      7  Device Statistics log
0x06           SL  R/O      1  SMART self-test log
0x07       GPL     R/O      1  Extended self-test log
0x08       GPL     R/O      2  Power Conditions log
0x09           SL  R/W      1  Selective self-test log
0x10       GPL     R/O      1  SATA NCQ Queued Error log
0x11       GPL     R/O      1  SATA Phy Event Counters log
0x20       GPL     R/O      1  Streaming performance log [OBS-8]
0x21       GPL     R/O      1  Write stream error log
0x22       GPL     R/O      1  Read stream error log
0x80-0x9f  GPL,SL  R/W     16  Host vendor specific log
0xe0       GPL,SL  R/W      1  SCT Command/Status
0xe1       GPL,SL  R/W      1  SCT Data Transfer

SMART Extended Comprehensive Error Log Version: 1 (1 sectors)
Device Error Count: 2
    CR     = Command Register
    FEATR  = Features Register
    COUNT  = Count (was: Sector Count) Register
    LBA_48 = Upper bytes of LBA High/Mid/Low Registers ]  ATA-8
    LH     = LBA High (was: Cylinder High) Register    ]   LBA
    LM     = LBA Mid (was: Cylinder Low) Register      ] Register
    LL     = LBA Low (was: Sector Number) Register     ]
    DV     = Device (was: Device/Head) Register
    DC     = Device Control Register
    ER     = Error register
    ST     = Status register
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.

Error 2 [1] occurred at disk power-on lifetime: 16878 hours (703 days + 6 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER -- ST COUNT  LBA_48  LH LM LL DV DC
  -- -- -- == -- == == == -- -- -- -- --
  40 -- 51 00 0f 00 01 12 cd a0 31 02 00  Error: UNC at LBA = 0x112cda031 = 4610433073

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FEATR COUNT  LBA_48  LH LM LL DV DC  Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- == -- == -- == == == -- -- -- -- --  ---------------  --------------------
  60 00 10 00 10 00 01 12 cd a0 30 40 00  1d+08:13:30.021  READ FPDMA QUEUED
  61 00 10 00 00 00 01 12 63 a0 30 40 00  1d+08:13:30.021  WRITE FPDMA QUEUED
  60 00 10 00 00 00 01 12 cc a0 30 40 00  1d+08:13:30.017  READ FPDMA QUEUED
  61 00 10 00 10 00 01 12 62 a0 30 40 00  1d+08:13:30.011  WRITE FPDMA QUEUED
  60 00 10 00 00 00 01 12 cb a0 30 40 00  1d+08:13:30.004  READ FPDMA QUEUED

Error 1 [0] occurred at disk power-on lifetime: 10610 hours (442 days + 2 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER -- ST COUNT  LBA_48  LH LM LL DV DC
  -- -- -- == -- == == == -- -- -- -- --
  40 -- 51 01 34 00 01 12 f9 3a fc 02 00  Error: UNC at LBA = 0x112f93afc = 4613290748

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FEATR COUNT  LBA_48  LH LM LL DV DC  Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- == -- == -- == == == -- -- -- -- --  ---------------  --------------------
  60 00 08 00 10 00 00 00 00 01 2c 40 00  2d+01:26:34.533  READ FPDMA QUEUED
  61 00 10 00 08 00 00 57 04 60 00 40 00  2d+01:26:33.675  WRITE FPDMA QUEUED
  60 02 00 00 00 00 01 12 f9 3a 30 40 00  2d+01:26:33.386  READ FPDMA QUEUED
  60 02 00 00 00 00 01 12 f9 38 30 40 00  2d+01:26:33.384  READ FPDMA QUEUED
  60 02 00 00 00 00 01 12 f9 36 30 40 00  2d+01:26:33.382  READ FPDMA QUEUED

SMART Extended Self-test Log Version: 1 (1 sectors)
Num  Test_Description    Status                  Remaining  LifeTime(hours)  LBA_of_first_error
# 1  Short offline       Completed without error       00%     26741         -

SMART Selective self-test log data structure revision number 1
 SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
    1        0        0  Not_testing
    2        0        0  Not_testing
    3        0        0  Not_testing
    4        0        0  Not_testing
    5        0        0  Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
  After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.

SCT Status Version:                  3
SCT Version (vendor specific):       256 (0x0100)
SCT Support Level:                   1
Device State:                        Active (0)
Current Temperature:                    36 Celsius
Power Cycle Min/Max Temperature:     35/38 Celsius
Lifetime    Min/Max Temperature:     22/56 Celsius
Under/Over Temperature Limit Count:   0/0

SCT Temperature History Version:     2
Temperature Sampling Period:         1 minute
Temperature Logging Interval:        1 minute
Min/Max recommended Temperature:      0/60 Celsius
Min/Max Temperature Limit:           -40/70 Celsius
Temperature History Size (Index):    128 (43)

Index    Estimated Time   Temperature Celsius
  44    2019-01-01 03:26    37  ******************
 ...    ..( 15 skipped).    ..  ******************
  60    2019-01-01 03:42    37  ******************
  61    2019-01-01 03:43    36  *****************
 ...    ..( 20 skipped).    ..  *****************
  82    2019-01-01 04:04    36  *****************
  83    2019-01-01 04:05    35  ****************
 ...    ..(  2 skipped).    ..  ****************
  86    2019-01-01 04:08    35  ****************
  87    2019-01-01 04:09    36  *****************
  88    2019-01-01 04:10    36  *****************
  89    2019-01-01 04:11    35  ****************
 ...    ..( 40 skipped).    ..  ****************
   2    2019-01-01 04:52    35  ****************
   3    2019-01-01 04:53    36  *****************
 ...    ..(  4 skipped).    ..  *****************
   8    2019-01-01 04:58    36  *****************
   9    2019-01-01 04:59    37  ******************
 ...    ..( 30 skipped).    ..  ******************
  40    2019-01-01 05:30    37  ******************
  41    2019-01-01 05:31    36  *****************
  42    2019-01-01 05:32    36  *****************
  43    2019-01-01 05:33    36  *****************

SCT Error Recovery Control:
           Read: Disabled
          Write: Disabled

Device Statistics (GP Log 0x04)
Page  Offset Size        Value Flags Description
0x01  =====  =               =  ===  == General Statistics (rev 2) ==
0x01  0x008  4               8  ---  Lifetime Power-On Resets
0x01  0x018  6      1598892472  ---  Logical Sectors Written
0x01  0x020  6         1386302  ---  Number of Write Commands
0x01  0x028  6      3655763419  ---  Logical Sectors Read
0x01  0x030  6         7494155  ---  Number of Read Commands
0x03  =====  =               =  ===  == Rotating Media Statistics (rev 1) ==
0x03  0x008  4             520  ---  Spindle Motor Power-on Hours
0x03  0x010  4             520  ---  Head Flying Hours
0x03  0x018  4              16  ---  Head Load Events
0x03  0x020  4               0  ---  Number of Reallocated Logical Sectors
0x03  0x028  4               0  ---  Read Recovery Attempts
0x03  0x030  4               0  ---  Number of Mechanical Start Failures
0x04  =====  =               =  ===  == General Errors Statistics (rev 1) ==
0x04  0x008  4               0  ---  Number of Reported Uncorrectable Errors
0x04  0x010  4               0  ---  Resets Between Cmd Acceptance and Completion
0x05  =====  =               =  ===  == Temperature Statistics (rev 1) ==
0x05  0x008  1              37  ---  Current Temperature
0x05  0x010  1              35  N--  Average Short Term Temperature
0x05  0x018  1               -  N--  Average Long Term Temperature
0x05  0x020  1              56  ---  Highest Temperature
0x05  0x028  1              22  ---  Lowest Temperature
0x05  0x030  1              41  N--  Highest Average Short Term Temperature
0x05  0x038  1              25  N--  Lowest Average Short Term Temperature
0x05  0x040  1               -  N--  Highest Average Long Term Temperature
0x05  0x048  1               -  N--  Lowest Average Long Term Temperature
0x05  0x050  4               0  ---  Time in Over-Temperature
0x05  0x058  1              60  ---  Specified Maximum Operating Temperature
0x05  0x060  4               0  ---  Time in Under-Temperature
0x05  0x068  1               0  ---  Specified Minimum Operating Temperature
0x06  =====  =               =  ===  == Transport Statistics (rev 1) ==
0x06  0x008  4              60  ---  Number of Hardware Resets
0x06  0x010  4              13  ---  Number of ASR Events
0x06  0x018  4               0  ---  Number of Interface CRC Errors
                                |||_ C monitored condition met
                                ||__ D supports DSN
                                |___ N normalized value

SATA Phy Event Counters (GP Log 0x11)
ID      Size     Value  Description
0x0001  2            0  Command failed due to ICRC error
0x0002  2            0  R_ERR response for data FIS
0x0003  2            0  R_ERR response for device-to-host data FIS
0x0004  2            0  R_ERR response for host-to-device data FIS
0x0005  2            0  R_ERR response for non-data FIS
0x0006  2            0  R_ERR response for device-to-host non-data FIS
0x0007  2            0  R_ERR response for host-to-device non-data FIS
0x0009  2            1  Transition from drive PhyRdy to drive PhyNRdy
0x000a  2            2  Device-to-host register FISes sent due to a COMRESET
0x000b  2            0  CRC errors within host-to-device FIS
0x000d  2            0  Non-CRC errors within host-to-device FIS

보시다시피, 드라이브의 전원 공급 시간은 520입니다. (한 달 미만 동안 정확했기 때문에) 두 오류는 10610 시간과 16878 시간에 발생했으며 분명히 불가능합니다.

여기서 무슨 일이야? 오류가 실제입니까? 꺼림칙한? 내 공급 업체가 여기에 어떤 종류의 주행 거리계 변조가있을 수 있습니까?


최신 정보

(이보다 훨씬 이전에 있었지만 HGST Western Digital :/은 실제로 도움이되지 않습니다 (왜 OEM 드라이브에 대한 정보를 전혀 유지하지 않으면 일련 번호를 OEM 드라이브에 제공합니까?)).

내가 이것을 설치했을 때, 나는 그것들이 나의 오래된 것들과 같은 라벨에 제조 날짜가 없다는 것을 알았지 만, 나는 더 이상 인쇄하지 않고 제조사 에까지 더 이상 아무것도 생각하지 않았습니다. 나는 Deltik의 큰 대답을 보았다 . 이것들은 나에게 일어나지 않았거나 (또는 ​​효과적으로) 지워질 수있었습니다.

제조업체 (새로운 소유자)로부터 공식 단어를 가져 오려는 시도가 실패한 후, 모든 설정을 가져 와서 평판 스캐너를 최대로 설정했습니다. 오래된 확대 / 축소를 수행하여 각 항목이 지워 졌다는 증거를 발견 할 수있었습니다. 다음은 읽기 쉬운 예제 중 하나입니다.

(자비를 위해 원본 5717 × 8117px, 64.0MB .png 생략)

줄어든 .jpg 개요 :

줄어든 .jpg 개요

범죄 현장의 .png 원본 해상도 (라벨의 오른쪽 상단 모서리) :

범죄 현장의 .png 원본 해상도 (라벨의 오른쪽 상단 모서리)

더 많은 독수리 눈이 이미 그것을 읽을 수 있지만 다음은 자동 레벨 사각형입니다.

자동 레벨의 사각형

네 모든 드라이브에는이 고의적 인 사기 시도로 인해 미묘한 표시가 남아 있으며 모두 2015 년 3 월 / 4 월 / 5 월입니다. 2018 년 11 월 말 "새로운"의미는 아닙니다.

또한 다른 주석가들처럼 SMART가 이와 같이 파괴 될 수 있다는 사실에 놀랐습니다. 재설정 할 수 있다면 대부분의 시점이 아닙니까?

나는 이것을 더 추구 할 것이다. 이 공간을보십시오.


4
16.8k 시간이 스티커의 제조 날짜와 일치합니까? 아니면 드라이브가 만들어지기 전에 오류가 발생했을까요?
Peter Cordes

2
@PeterCordes, 이제 숨기려고했던 날짜를 볼 수 있으므로 실제로 일관됩니다.
Atario

답변:


129

"odometer tampering"에 대한 귀하의 의심이 정확하고 가능 하다고 생각 합니다 . 기록 된 오류는 읽을 때 불량 섹터를 나타 내기 때문에 실제적이고 확실하게 걱정됩니다. 디스크가 사용자에게 전달되기 전에 디스크가 지워졌을 수 있으므로 해당 불량 섹터가 재 매핑되었을 수 있습니다.

하드 드라이브를 판매 한 사람은 SMART 특성을 재설정하여 새 하드 드라이브처럼 보이게합니다.


일화

2015 년 7 월 25 일, goHardDrive.com에서 6 개의 매우 유사한 하드 드라이브를 구입했습니다. 모든 디스크를 검사 할 때 거의 동일한 증상이 나타납니다.

root@box52:~# smartctl -a /dev/sdb
smartctl 6.2 2013-07-26 r3841 [x86_64-linux-3.13.0-57-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-13, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family:     Hitachi Deskstar 7K2000
Device Model:     Hitachi HDS722020ALA330
Serial Number:    JK1101B9G7U8NF
LU WWN Device Id: 5 000cca 222c38d7e
Firmware Version: JKAOA3MA
User Capacity:    2,000,398,934,016 bytes [2.00 TB]
Sector Size:      512 bytes logical/physical
Rotation Rate:    7200 rpm
Device is:        In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is:   ATA8-ACS T13/1699-D revision 4
SATA Version is:  SATA 2.6, 3.0 Gb/s
Local Time is:    Thu Jul 30 13:57:13 2015 CDT
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART STATUS RETURN: incomplete response, ATA output registers missing
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
Warning: This result is based on an Attribute check.

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x80) Offline data collection activity
                                        was never started.
                                        Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status:      (   0) The previous self-test routine completed
                                        without error or no self-test has ever
                                        been run.
Total time to complete Offline
data collection:                (23653) seconds.
Offline data collection
capabilities:                    (0x5b) SMART execute Offline immediate.
                                        Auto Offline data collection on/off support.
                                        Suspend Offline collection upon new
                                        command.
                                        Offline surface scan supported.
                                        Self-test supported.
                                        No Conveyance Self-test supported.
                                        Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0003) Saves SMART data before entering
                                        power-saving mode.
                                        Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
                                        General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time:        (   1) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:        ( 394) minutes.
SCT capabilities:              (0x003d) SCT Status supported.
                                        SCT Error Recovery Control supported.
                                        SCT Feature Control supported.
                                        SCT Data Table supported.

SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  1 Raw_Read_Error_Rate     0x000b   100   100   016    Pre-fail  Always       -       0
  2 Throughput_Performance  0x0005   100   100   054    Pre-fail  Offline      -       0
  3 Spin_Up_Time            0x0007   100   100   024    Pre-fail  Always       -       0
  4 Start_Stop_Count        0x0012   100   100   000    Old_age   Always       -       1
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0033   100   100   005    Pre-fail  Always       -       2
  7 Seek_Error_Rate         0x000b   100   100   067    Pre-fail  Always       -       0
  8 Seek_Time_Performance   0x0005   100   100   020    Pre-fail  Offline      -       0
  9 Power_On_Hours          0x0012   100   100   000    Old_age   Always       -       0
 10 Spin_Retry_Count        0x0013   100   100   060    Pre-fail  Always       -       0
 12 Power_Cycle_Count       0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       1
192 Power-Off_Retract_Count 0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       1
193 Load_Cycle_Count        0x0012   100   100   000    Old_age   Always       -       1
194 Temperature_Celsius     0x0002   206   206   000    Old_age   Always       -       29 (Min/Max 25/29)
196 Reallocated_Event_Count 0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       2
197 Current_Pending_Sector  0x0022   100   100   000    Old_age   Always       -       0
198 Offline_Uncorrectable   0x0008   100   100   000    Old_age   Offline      -       0
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x000a   200   200   000    Old_age   Always       -       0

SMART Error Log Version: 1
ATA Error Count: 2
        CR = Command Register [HEX]
        FR = Features Register [HEX]
        SC = Sector Count Register [HEX]
        SN = Sector Number Register [HEX]
        CL = Cylinder Low Register [HEX]
        CH = Cylinder High Register [HEX]
        DH = Device/Head Register [HEX]
        DC = Device Command Register [HEX]
        ER = Error register [HEX]
        ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.

Error 2 occurred at disk power-on lifetime: 31311 hours (1304 days + 15 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  40 51 ff 01 58 5d 08  Error: UNC 255 sectors at LBA = 0x085d5801 = 140335105

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  25 00 00 00 58 5d 40 00   9d+05:13:00.528  READ DMA EXT
  25 00 00 00 57 5d 40 00   9d+05:12:59.801  READ DMA EXT
  25 00 00 00 56 5d 48 00   9d+05:12:59.797  READ DMA EXT
  25 00 00 00 55 5d 48 00   9d+05:12:59.794  READ DMA EXT
  25 00 00 00 54 5d 48 00   9d+05:12:59.789  READ DMA EXT

Error 1 occurred at disk power-on lifetime: 31243 hours (1301 days + 19 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  40 51 ff 01 58 5d 08  Error: UNC 255 sectors at LBA = 0x085d5801 = 140335105

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  25 00 00 00 58 5d 40 00  41d+18:29:24.394  READ DMA EXT
  25 00 00 00 57 5d 48 00  41d+18:29:24.388  READ DMA EXT
  25 00 00 00 56 5d 40 00  41d+18:29:24.383  READ DMA EXT
  25 00 00 00 55 5d 40 00  41d+18:29:24.376  READ DMA EXT
  25 00 00 00 54 5d 40 00  41d+18:29:24.371  READ DMA EXT

SMART Self-test log structure revision number 1
Num  Test_Description    Status                  Remaining  LifeTime(hours)  LBA_of_first_error
# 1  Short offline       Completed without error       00%         0         -

SMART Selective self-test log data structure revision number 1
 SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
    1        0        0  Not_testing
    2        0        0  Not_testing
    3        0        0  Not_testing
    4        0        0  Not_testing
    5        0        0  Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
  After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.

지워지거나 지울 수없는 SMART 오류가 아니라면 내가 구입 한 디스크가 새 디스크라는 것을 확신했을 것입니다.

의심스러워 Hitachi Global Storage Technologies에 전화를 걸었고 디스크를 구입하기 거의 5 년 전인 2010 년 9 월 24 일에 최소 2 개의 디스크에 대한 보증이 활성화되었음을 알게되었습니다. 제조업체의 보증 기간은 3 년 후에 만료되었습니다.

판매자에 대한 불만으로 다음과 같이 썼습니다.

SMART 속성 값을 지우는 것은 자동차의 주행 거리계를 0으로 만드는 것과 같습니다. SMART 속성을 지울 때 큰 문제는 나와 같은 최종 사용자가 섹터가 재 할당되었는지 식별 할 방법이 없다는 것입니다. 재 할당 된 섹터가없고 재 할당 된 모든 예비 섹터까지 어디에나있을 수 있습니다. 이 드라이브는 거의 5 년이 지난 드라이브 중 적어도 하나의 전원이 켜진 시간의 73.7 % 이상인 것을 고려할 때, 내가 알지 못하는 재 매핑 된 섹터가있을 가능성이 큽니다.

goHardDrive.com은 하나 이상의 결함이있는 하드 드라이브를 판매했으며 6 개 하드 드라이브의 작동 기록을 의도적으로 지웠으며 판매 당시 하드 드라이브의 사용 특성을 밝히지 않았습니다.

나는 또한 하드 드라이브의 사진을 찍었다 :

goHardDrive.com의 스케치 하드 드라이브 – 이미지 하단의 하드 드라이브는 참조 드라이브입니다.

이미지 하단의 하드 드라이브는 동일한 제조업체의 참조 디스크입니다.

참조 디스크가 APR-2012인쇄되어 제작시기를 보여줍니다. 내가 구입 한 6 개의 디스크에서 제조 날짜가 제거되었지만 충분하지는 않습니다. 당신이 희미하게 만들 수있는 중간 디스크를보십시오 AUG-2010.

디스크의 기록을 확실히 확인할 수 있습니다. "odometers"가 재설정 된 중고 하드 드라이브를 구입했습니다.

결국 판매자는 반품 요청을 수락하고 전액 환불을 위해 모든 디스크를 반송했습니다.

구입 한 하드 드라이브에주의하십시오! 남은 마모 흔적이 있는지 확인하는 것이 좋습니다.


34
오, 좋은 대답입니다. SMART 속성을 재설정 할 수 있다는 것을 몰랐습니다. 나는 초침 디스크를 구입 한 적이 없으며 이제는 그렇게 할 의도가 없습니다 :)
DavidPostill

31
아마도 이러한 행동은 기본적으로 미스 엘링 / 사기이기 때문에 무역법에 위배됩니다. 그 문제를 더 고려해 보셨습니까?
궤도에서 가벼움 경주

13
@DavidPostill : 분명히 Deltik은 그렇게 할 의도가 없었지만 스케치 공급 업체의 사기의 피해자였습니다.
R ..

12
@Deltik 나는이 행동이 아직보고되지 않았으며, 정직한 소비자 수를 아는 사람에게 해를 끼치는 것에 대해 우려하고있다.
궤도에서 가벼움 경주

18
내 친구가 실수로 "새"SD 카드를 다시 포맷하고 크리스마스 사진을 잃어 버렸습니다. 그래서 복구 도구를 실행하여 본 적이없는 사람들의 200 장 이상의 사진을 복구했습니다! 또한 SDRAM에주의하십시오. 제조업체 ID는 PCB의 직렬 PROM에 저장되어 있으며 아무 말이나하도록 프로그래밍 할 수 있습니다. "Samsung"철자가 틀리면 분명해집니다
Rodney
당사 사이트를 사용함과 동시에 당사의 쿠키 정책개인정보 보호정책을 읽고 이해하였음을 인정하는 것으로 간주합니다.
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