질문에서 언급했듯이, 보관 된 comp.dsp 유즈넷 게시물 ( http://www.dsprelated.com/showmessage/71595/1.php , "tdillon"의 게시물)에서 한 가지 제안을 찾았 습니다.
A.Single FFT tests - N inputs and N outputs
1.Input random data
2.Inputs are all zeros
3.Inputs are all ones (or some other nonzero value)
4.Inputs alternate between +1 and -1.
5.Input is e^(8*j*2*pi*i/N) for i = 0,1,2, ...,N-1. (j = sqrt(-1))
6.Input is cos(8*2*pi*i/N) for i = 0,1,2, ...,N-1.
7.Input is e^((43/7)*j*2*pi*i/N) for i = 0,1,2, ...,N-1. (j = sqrt(-1))
8.Input is cos((43/7)*2*pi*i/N) for i = 0,1,2, ...,N-1.
B.Multi FFT tests - run continuous sets of random data
1.Data sets start at times 0, N, 2N, 3N, 4N, ....
2.Data sets start at times 0, N+1, 2N+2, 3N+3, 4N+4, ....
스레드는 또한 진폭이 큰 하나와 진폭이 작은 두 가지 사인을 수행하도록 제안합니다.
내가 주요 질문에서 말했듯이, 이것이 특히 좋은 대답인지, 또는 완전히 완료되었는지는 확실하지 않지만 사람들이 투표하고 의견을 말할 수 있도록 여기에 넣고 있습니다.